مقاله فوق مربوط به درس کریستالوگرافی رشته مهندسی مواد است که در مورد مواد دارای تقارن درجه پنج نوشته شده است و بسیار مناسب برای ارائه به دانشگاه و استاد می باشد . مقاله در هفت صفحه نوشته شده است و ترجمه صفحه ویکی پدیا این تقارن ها می باشد که در ادامه می توانید بخشی از مقاله را مشاهده نمایید .
قسمتی از مقاله بررسی مواد دارای تقارن درجه پنج و شبه کریستال ها
کریستالوگرافی مدرن در سال 1912 و با کارهای دانشمندی به نام لاوه کسی که اولین آزمایش اشعه ایکس را انجام داد آغاز شد . تمام مطالعاتی که از این سال تا سال 1982 بر روی کریستال ها انجام شد نشان از این موضوع داشت که کریستال ها همگی دارای الگویی منظم و دارای تکرار پریودیک هستند . بر همین اساس دانشمندان علم کریستالوگرافی این موضوع را مبنا قرار دادند که یک ماده می تواند کریستال باشد یا خیر .
بعد از مطالعاتی که دانشمندان بر روی کریستال ها انجام دادند متوجه شدند که تنها کریستال هایی با درجه های تقارن 1،2،3،4 و 6 می توانند موجود باشد و سایر تقارنها در کریستال ها نمی تواند نمود پیدا کند . این فرضیه در نهایت با کارهای تحقیقاتی دانشمندی به نام شختمن به پایان رسید و این دانشمند توانست تا کریستالهایی را معرفی کند که از خود تقارن درجه پنج نشان می دهند .....
مقاله فوق از منابع
https://en.wikipedia.org/wiki/Crystal#Quasicrystals
https://en.wikipedia.org/wiki/Dan_Shechtman
http://www.nature.com/articles/srep19645
ترجمه شده است و شما می توانید این مقاله را با قیمت 4000 هزار تومان خریداری کنید و نمره خوبی را در درس کریستالوگرافی به دست آورید .
Paolo Sbraccia, Enzo Nisoli, Roberto Vettor (eds.)
Peng George Wang, Tingwei Bill Cai, Naoyuki Taniguchi
شرح مختصر : متن این پروژه براساس دیتاشیت آی سی های مربوطه و کتاب راهنمای تراشه های TTL “مجموع سه جلد” بیان شده و البته از مطالب آزاد و جزوات درس دیجیتال و آزمایشگاه دیجیتال نیز استفاده شده است .
– در این پروژه سعی شده تستر آی سی های دیجیتال به گونه ای طراحی شود، که سالم بودن آی سی را بر اساس گیت نشان دهد، یعنی ابتدا تستها را برای گیتهای آی سی دیجیتالی انجام می دهد و در انتها صحت سالم بودن و یا معیوب بودن آی سی را نشان می دهد، در صورتی که بعضی از تسترها در حالت کلی تست را انجام می دهند، یعنی نشان نمی دهند که کدام گیت خراب است، و فقط آن آی سی را سالم و یا معیوب نشان می دهند.
مزیت این تستر این است که آی سی را براساس گیت تست کرده و چنانچه چند گیت خراب باشد، برای صرفه جویی در مصرف آی سی ها مورد مصرف در آزمایشگاه می توان از گیتهای سُالم آی سی تست شده استفاده کرد؛ ” برای آشنایی با گیت آی سی ها و طریقه شماره گذاری گیت آی سی ها به متن پروژه مراجعه کنید. “
– در صورتی که بخواهید یک مدل آی سی را به تعداد زیادی تست کنید ، کافی است برای بار اول شماره آی سی را وارد کرده تا تست یک مدل صورت گیرد، حال برای دفعات بعد کافیست که کلید START کیبورد را بزنید، چرا که شماره آی سی قبلی برای نمونه در حافظه میکرو ذخیره شده است.
– این تستر، سالم بودن گیت آی سی را به صورت (+G) نمایش داده و معیوب بودن گیت آی سی را به صورت (–G)
نمایش می دهد، و در انتها سالم بودن آی سی را با پیغام (TEST IC TTL PASS) و معیوب بودن آی سی را نیز با پیغام (TEST IC TTL FAIL) نشان می دهد.
– این تستر برای آی سی های که شماره آنها 4 یا 5 رقمی می باشند طراحی شده است.
– در صورتی که شماره آی سی را اشتباه وارد کنید (منظور شماره آی سی های که تستر آنها را ساپورت نمی کند) در این حالت پیغام (NOT SUPPORT IC) نمایش داده می شود.
– در صورتی که (LED POWER) روشن نباشد، احتمالا یا برق وصل نبوده و یا فیوز ورودی دستگاه سوخته است.
– لطفا هنگامی که آی سی در حال تست بوده و LED Test روشن است، آی سی را از سوکت Zip برندارید.
– لطفا در هنگام قرار دادن آی سی مورد نظر در سوکت Zip دقت شود، آی سی را اشتباه قرار ندهید؛ چرا که باعث می شود، در مدار اتصال کوتاه رخ داده و دستگاه احتمالا خاموش شده و باید دوباره آن را راه اندازی کنید.
– این تستر نیز می تواند فلیپ فلاپ نوع D بشماره 7474 را تست و صحت و سالم بودن آن را نشان دهد.
– در صورت گم شدن آداپتور “منبع تغذیه دستگاه” باید یک مدل مشابه آن را تهیه کنید.
فهرست :
نمای کلی از مدار و PCB تستر آی سی
نمای کلی از مدار
طریقه طراحی جعبه دستگاه
Extreme Burner – AVR
خلاصه ای از مراحل انجام شده در این پروژه
شماره آی سی های قابل تست در این مدل
مشخصات آی سی NAND
مشخصات آی سی OR
مشخصات آی سی NOR
مشخصات آی سی XOR
مشخصات آی سی XNOR
مشخصات آی سی BUFFER
مشخصات آی سی FLIP FLOP D